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韩国DUON(斗蕴)株式会社社长来访传感器工程中心
来源:|日期:2008-11-7 10:29:35|点击:

 115,韩国DUON(斗蕴)株式会社社长金永寿先生一行两人前来传感器工程中心进行洽谈访问,在工程中心主任刘沁的陪同下,参观了我中心芯片部、装配部、测试部三大生产主线以及硅电容研究室,对我中心的产品工艺、测试水平、规模及实力都表示非常认可,此次到访,主要是加强技术交流与互动,希望共同开拓市场,同时表示期望在未来发展的领域中能够拥有更大的合作空间。

 
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